TII&UNISOKU产品
SPM探头 |
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最大扫描范围 (X×Y×Z) |
1.7×1.7×0.54µm3 @ 5 K |
分辨率 |
原子级分辨率 |
最低极限温度 |
5K |
真空度 |
观察室和制备室 3.0×10-8Pa, 快速进样室 1.3×10-5Pa |
STM控制器 |
Nanonis™控制器 |
可选 |
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AFM功能 |
音叉式NC-AFM |
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