TII&UNISOKU产品
SPM探头 |
|
最大扫描范围 (X×Y×Z) |
1.7×1.7×0.54µm3 @ 4.5 K |
分辨率 |
原子级分辨率 |
温度范围 |
5.5 ~ 100K (温度可调) |
真空度 |
观察室和制备室 3.0×10-8Pa, 快速进样室 5×10-5Pa |
STM控制器 |
Nanonis™控制器 |
可选 |
|
AFM功能 |
音叉式NC-AFM |
观察室扩展功能 |
透镜台、探针台、高周波压印 |
点击观看pdf资料 | ![]() |